[发明专利]使用近场微波的流测量有效

专利信息
申请号: 201080014380.4 申请日: 2010-09-21
公开(公告)号: CN102369417A 公开(公告)日: 2012-03-07
发明(设计)人: 法比安·温格 申请(专利权)人: 罗斯蒙德公司
主分类号: G01F1/66 分类号: G01F1/66;G01F1/74
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 潘剑颖
地址: 美国明*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 用于测量过程流体的流速和流构成的流量计(12)包括被配置为生成微波信号的微波源(100)。探头针(30)耦合到微波源(100),并且在靠近过程流体(16)的近场中。探头针(30)被配置为将微波信号施加到过程流体(16)。耦合到探头针(30)的微波探测器(102)被配置为探测来自过程流体(16)的响应于施加的微波信号的近场微波。流计算电路(112)根据探测到的微波信号来确定过程流体的流速和/或构成。
搜索关键词: 使用 近场 微波 测量
【主权项】:
一种用于测量过程流体的流速的流量计,包括:微波源,被配置为生成微波信号;探头针,耦合到所述微波源,并且在靠近过程流体的近场中,被配置为将微波信号施加到过程流体;微波探测器,耦合到所述探头针,被配置为探测来自过程流体的响应于所施加的微波信号的反射的近场微波信号;流计算电路,根据探测到的微波信号来确定所述过程流体的流速和流构成中至少之一。
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