[发明专利]用于粘附测试的粘附元件以及对应测试过程无效
| 申请号： | 201080016749.5 | 申请日： | 2010-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN102395871A | 公开（公告）日： | 2012-03-28 |
| 发明（设计）人： | C.德尔萨尔托 | 申请（专利权）人： | 耶尼私人有限公司 |
| 主分类号： | G01N19/04 | 分类号： | G01N19/04 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 赵华伟;杨炯 |
| 地址： | 意大*** | 国省代码： | 意大利;IT |
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| 摘要： | 用于粘附测试的粘附元件（1,101）包括：双粘附层（4,104），其包括第一粘附表面（6,106）和第二粘附表面（8,108），所述第一粘附表面被设计成以粘附关系与经受测试的表面（20,220）共同协作。粘附元件（1,101）还包括支撑层（2），所述支撑层具有相当粘附表面（2a），所述相当粘附表面被设计成以粘附关系与所述第二粘附表面（8,108）共同协作。所述双粘附层（4,104）具有成片段结构。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 粘附 测试 元件 以及 对应 过程 | ||
【主权项】：
一种用于粘附测试的粘附元件（1, 101），包括：‑ 双粘附层（4, 104），其包括第一粘附表面（6, 106）和第二粘附表面（8, 108），所述第一粘附表面被设计成以粘附关系与经受所述测试的表面（20, 220）共同协作；以及‑ 支撑层（2），所述支撑层具有相当粘附表面（2a），所述相当粘附表面被设计成以粘附关系与所述第二粘附表面（8, 108）共同协作；所述粘附元件特征在于，所述双粘附层（4, 104）具有成片段结构。
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