[发明专利]校正装置、概率密度函数测量装置、抖动测量装置、抖动分离装置、电子器件、校正方法、程序以及记录介质无效
| 申请号： | 201080017802.3 | 申请日： | 2010-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN102414567A | 公开（公告）日： | 2012-04-11 |
| 发明（设计）人： | 哈利·侯;艾里克·库什尼克;山口隆弘;石田雅裕 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | G01R29/02 | 分类号： | G01R29/02 |
| 代理公司： | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 | 代理人： | 齐永红 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种校正装置，用于校正概率密度函数，该概率密度函数是由利用相对于预定的时间间隔的理想时序具有误差的选通时序，对测量对象的特性进行测量后的测量结果所得到的，其中该校正装置具备：插值部，其被给予作为测量结果的累积密度函数，对累积密度函数的各个选通时序之间的值进行插值，并算出在各个理想时序中的累积密度函数的值，以算出在理想时序中的校正累积密度函数；以及校正函数产生部，其基于插值部所算出的校正累积密度函数，生成在概率密度函数中的选通时序的误差被校正后的校正概率密度函数。 | ||
| 搜索关键词： | 校正 装置 概率 密度 函数 测量 抖动 分离 电子器件 方法 程序 以及 记录 介质 | ||
【主权项】：
一种校正装置，是用于校正概率密度函数的校正装置，该概率密度函数是从以相对于预定的时间间隔的理想时序具有误差的选通时序，对测量对象的特性进行测量后的测量结果得到的概率密度函数，该校正装置具有：插值部，其被给予测量结果的累积密度函数，对前述累积密度函数的各个选通时序之间的值进行插值后，算出在各个前述理想时序中的前述累积密度函数的值，以计算出在前述理想时序中的校正累积密度函数；以及校正函数产生部，其基于前述插值部所算出的前述校正累积密度函数，来生成在前述概率密度函数中的前述选通时序的误差被校正后的校正概率密度函数。
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