[发明专利]光学位置检测设备无效
申请号: | 201080018251.2 | 申请日: | 2010-04-19 |
公开(公告)号: | CN102422251A | 公开(公告)日: | 2012-04-18 |
发明(设计)人: | 小川保二 | 申请(专利权)人: | 株式会社施乐库;株式会社伊特 |
主分类号: | G06F3/042 | 分类号: | G06F3/042;G06F3/041 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 黄刚;车文 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供了光学位置检测设备,所述光学位置检测设备包括反向反射构件(10)和检测单元(20)。反向反射构件设置为覆盖检测区域的周边。检测单元设置在检测区域的周边的一个部分处,并通过利用从反向反射构件发射的反射光来检测指示器的指示位置。检测单元包括两个检测部分(21),每个检测部分(21)具有光源部分和照相机部分。光源部分具有足够宽以利用光照射整个检测区域的照射角度。照相机部分包括超宽角度透镜和图像传感器,所述照相机部分设置为靠近光源部分,并具有足够宽以将整个检测区域成像的观察角度。两个检测部分布置为使得所述两个检测部分之间的距离小于检测区域的在从检测单元向检测区域的方向上观察的宽度。 | ||
搜索关键词: | 光学 位置 检测 设备 | ||
【主权项】:
一种光学位置检测设备,所述光学位置检测设备能检测将输入到检测区域的指示器的指示位置,所述光学位置检测设备包括:反向反射构件,所述反向反射构件设置在所述指示器上,或设置为覆盖所述检测区域的周边的至少一部分;和检测单元,所述检测单元设置在所述检测区域的周边的一个部分处,并通过利用从所述反向反射构件反射的反射光来检测所述指示器的指示位置,所述检测单元包括至少两个检测部分,每个检测部分具有发出沿所述检测区域的表面方向行进的光的光源部分和将从所述光源部分发出的且被所述反向反射构件反射的光成像的照相机部分,其中所述光源部分具有足够宽以用光照射整个检测区域的照射角度,所述照相机部分包括超宽角度透镜和图像传感器,所述照相机部分设置为靠近所述光源部分,且具有足够宽以将整个检测区域成像的观察角度,并且所述两个检测部分布置为使得所述两个检测部分之间的距离小于所述检测区域的在从所述检测单元向所述检测区域的方向上观察的宽度。
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