[发明专利]半导体元件及制作半导体元件的方法无效

专利信息
申请号: 201080018398.1 申请日: 2010-11-15
公开(公告)号: CN102414848A 公开(公告)日: 2012-04-11
发明(设计)人: 德山慎司;足立真宽;京野孝史;斋藤吉广 申请(专利权)人: 住友电气工业株式会社
主分类号: H01L33/32 分类号: H01L33/32;H01L33/36
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 谢丽娜;关兆辉
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供半导体元件,在相对c面倾斜的p型主面中具有良好的欧姆接触。p型半导体区域(13)的主面(13a)沿相对于该六方晶系III族氮化物的c轴(<0001>轴)倾斜的平面延伸。金属层(15)设置于p型半导体区域(13)的主面(13a)上。金属层(15)与p型半导体区域(13)以形成界面(17)的方式层积而构成非合金电极。六方晶系III族氮化物含有镓作为III族构成元素,因此由六方晶系III族氮化物构成的主面(13a)比六方晶系III族氮化物的c面更易被氧化。金属层(15)与p型半导体区域(13)以形成界面(17)的方式层积而构成非合金电极。避免形成用作电极的金属层(15)后的合金化引起的氧化物增加。
搜索关键词: 半导体 元件 制作 方法
【主权项】:
一种半导体元件,其特征在于,具有非合金电极,并且包括:p型半导体区域,其由六方晶系III族氮化物构成,该p型半导体区域具有主面,该主面沿相对于该六方晶系III族氮化物的c轴倾斜的平面延伸,而不同于该六方晶系III族氮化物的c面;以及金属层,设于上述p型半导体区域的上述主面上,上述六方晶系III族氮化物含有镓作为III族构成元素,上述金属层与上述p型半导体区域以形成界面的方式层积,构成非合金电极。
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