[发明专利]晶片承载器轨道有效
申请号: | 201080020492.0 | 申请日: | 2010-03-16 |
公开(公告)号: | CN102422407A | 公开(公告)日: | 2012-04-18 |
发明(设计)人: | 何甘;雷格·东克;凯思德·索拉布吉;罗杰·哈曼吉;安德瑞斯·海吉杜斯 | 申请(专利权)人: | 奥塔装置公司 |
主分类号: | H01L21/673 | 分类号: | H01L21/673;B65G51/03;B65G49/06;B65G54/02;H01L21/205 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 李冬梅;郑霞 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明的实施方案大体上涉及用于化学气相沉积(CVD)工艺的装置。在一个实施方案中,提供用于使晶片承载器在气相沉积反应器系统内漂浮和横移的晶片承载器轨道,晶片承载器轨道包括轨道组件的上部和下部,上部和下部具有在其之间形成的气体空腔。导向路径沿着上部的上表面并且在两个侧表面之间延伸,两个侧表面沿着导向路径并且在导向路径上方并且平行于彼此延伸。沿着导向路径的多个气体孔从上部的上表面延伸,穿过上部,并且进入气体空腔中。在某些实施例中,轨道组件的上部和下部可以独立地包括石英,并且在某些实施例中可以被熔合在一起。 | ||
搜索关键词: | 晶片 承载 轨道 | ||
【主权项】:
一种用于使晶片承载器在气相沉积反应器系统内漂浮和横移的晶片承载器轨道,包括:轨道组件的上部,其被布置在所述轨道组件的下部上;气体空腔,其被形成在所述轨道组件的所述上部和所述下部之间;导向路径,其沿着所述上部的上表面延伸;两个侧表面,其沿着所述导向路径并且在所述导向路径上方并且平行于彼此延伸,其中所述导向路径在所述两个侧表面之间延伸;多个气体孔,其在所述导向路径内并且从所述上部的所述上表面延伸,穿过所述上部,并且进入所述气体空腔中;以及被布置在所述轨道组件的一端处的上搭接接合部和被布置在所述轨道组件的相对端处的下搭接接合部,其中所述上搭接接合部沿着所述两个侧表面和所述导向路径的一部分延伸,并且所述下搭接接合部包括比所述轨道组件的所述导向路径和所述两个侧表面延伸得更远的上表面。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造