[发明专利]液晶面板和液晶面板检查方法无效
| 申请号： | 201080020640.9 | 申请日： | 2010-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN102422209A | 公开（公告）日： | 2012-04-18 |
| 发明（设计）人： | 端山贵文 | 申请（专利权）人： | 夏普株式会社 |
| 主分类号： | G02F1/1337 | 分类号： | G02F1/1337;G01N21/35 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 龙淳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种液晶面板和液晶面板检查方法。在液晶面板(1)中，在TFT基板(10)与CF基板(20)的相对面形成由聚酰亚胺构成的液晶取向膜(18)，在TFT基板(10)与CF基板(20)之间封入有液晶。在TFT基板(10)侧形成有金属膜(40)，该金属膜(40)能够从CF基板(20)一侧被光学识别，并且在测定覆盖其的液晶取向膜(18)的酰亚胺化度时成为红外光反射板。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶面板 检查 方法 | ||
【主权项】：
一种液晶面板，其特征在于：在该液晶面板中，在TFT基板与CF基板的相对面形成有由聚酰亚胺构成的液晶取向膜，在所述TFT基板与CF基板之间封入有液晶，在所述TFT基板一侧形成有金属膜，该金属膜能够从所述CF基板一侧被光学识别，并且在对覆盖该金属膜的所述液晶取向膜的酰亚胺化度进行测定时成为红外光反射板。
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