[发明专利]荧光检测装置和荧光检测方法无效

专利信息
申请号: 201080025626.8 申请日: 2010-05-27
公开(公告)号: CN102822665A 公开(公告)日: 2012-12-12
发明(设计)人: 土井恭二;林弘能;星岛一辉;浅野有美 申请(专利权)人: 三井造船株式会社
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 代理人: 杨颖;张一军
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种荧光检测装置和荧光检测方法,采用该荧光检测方法检测荧光时,以具有规定频率的调制信号对用来照射测量对象物的激光强度进行时间调制后将其照射在测量对象物。然后,使测量对象物受到激光照射后所发出的荧光形成光强度呈均匀分布的光束,并将所述荧光的光束分割给多个区域而使多个区域接收这些被分割的光束,由此生成多个部分荧光信号。其次,至少对所述多个部分荧光信号中的一部分进行加法处理,以生成一个荧光信号。根据生成的所述荧光信号,利用所述调制信号计算出测量对象物发出荧光的荧光弛豫时间。当根据荧光信号所计算出的、测量对象物所发出的荧光的荧光强度超过规定阈值时,限制进行加法处理的所述部分荧光信号数量。由此改善受光部的输出饱和。
搜索关键词: 荧光 检测 装置 方法
【主权项】:
一种荧光检测装置,接收位于测量位置的测量对象物受到激光照射后所发出的荧光、且对获得自该荧光的荧光信号进行信号处理,其特征在于,包括:激光光源部,发射用以照射测量对象物的激光;受光部,输出测量对象物被激光照射后所发出的荧光的荧光信号;光源控制部,生成具有规定频率的调制信号,以便对发射自所述激光光源部的激光强度进行时间调制;处理部,根据通过将时间调制的激光照射到测量对象物而由所述受光部输出的荧光信号,利用所述调制信号计算出测量对象物所发出的荧光的荧光弛豫时间;所述受光部包括使荧光在所述测量对象物的测量位置和荧光的受光面之间发生聚集的透镜,还包括使通过所述透镜的所述荧光形成具有均匀光强度分布的光束的装置、以及将通过该装置而形成的荧光的所述光束分割给多个区域而使多个区域分别接收这些被分割的光束的受光元件。
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