[发明专利]放大电路、积分电路及光检测装置有效
申请号: | 201080027821.4 | 申请日: | 2010-06-10 |
公开(公告)号: | CN102460963A | 公开(公告)日: | 2012-05-16 |
发明(设计)人: | 船越晴宽;伊藤真也 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社 |
主分类号: | H03F3/30 | 分类号: | H03F3/30;G01J1/44;G01J1/46;H03F1/02;H03F3/08;H03F3/45 |
代理公司: | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本,*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的光检测装置(1)具备光电二极管(PD)及积分电路(11)。积分电路(11)包含放大电路(20)、电容元件(C2)及第2开关(SW2)。放大电路(20)具有由PMOS晶体管(T1)及NMOS晶体管(T2)各自的漏极端子互相连接而成的驱动部。由PMOS晶体管(T10)构成的第1开关(SW1),对应于被输入至栅极端子的第1重置信号(Reset1)的电平而进行开闭动作。第1重置信号(Reset1)为低电平时,第1开关(SW1)成为闭合状态,对PMOS晶体管(T1)的栅极端子施加电源电位(VDD),由此使PMOS晶体管(T1)成为关闭状态。由此,可实现可兼顾低耗电化及高速化的放大电路、积分电路及光检测装置。 | ||
搜索关键词: | 放大 电路 积分电路 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种放大电路,其特征在于,是具有第1输入端子、第2输入端子及输出端子的放大电路,具备:驱动部,由PMOS晶体管及NMOS晶体管各自的漏极端子互相连接而成,且该连接点与所述输出端子连接;及第1开关,设置于被输入第1基准电位的第1基准电位输入端子与所述PMOS晶体管的栅极端子之间,且对所述PMOS晶体管的栅极端子施加所述第1基准电位,从而使所述PMOS晶体管成为关闭状态。
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