[发明专利]用于识别处理模块级失控事件的装置及其方法有效
申请号: | 201080029024.X | 申请日: | 2010-06-29 |
公开(公告)号: | CN102473590A | 公开(公告)日: | 2012-05-23 |
发明(设计)人: | 吕克·阿尔巴雷德;维甲压库马尔·C·凡尼高泊 | 申请(专利权)人: | 朗姆研究公司 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/02 |
代理公司: | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人: | 李献忠 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 提供了一种用于检测衬底处理期间处理室内现场快速瞬时事件的方法。该方法包括成组的传感器,该成组的传感器将数据集与成组的标准(现场快速瞬时事件)比较从而确定该第一数据集是否包括潜在现场快速瞬时事件。如果该第一数据集包括该潜在现场瞬时事件,则该方法还包括保存出现在该潜在现场快速瞬时事件发生期间内的电信号特征。该方法进一步包括将该电信号特征同一组存储的电弧信号特征比较。如果确定匹配,则该方法还包括将该电信号特征分类为第一现场快速瞬时事件以及依据成组的预定的阈值范围确定该第一现场快速瞬时事件的严重程度级别。 | ||
搜索关键词: | 用于 识别 处理 模块 失控 事件 装置 及其 方法 | ||
【主权项】:
一种用于检测衬底处理期间等离子体处理系统的处理室内现场快速瞬时事件的方法,所述方法包括:分析由成组的传感器收集的第一数据集,其中所述分析包括将所述第一数据集同成组的标准比较从而确定所述第一数据集是否包括潜在现场快速瞬时事件,其中所述成组的标准定义成组的现场快速瞬时事件;如果所述第一数据集包括所述潜在现场瞬时事件,则保存出现在所述潜在现场快速瞬时事件发生期间内的电信号特征;将所述电信号特征同成组的存储的电弧信号特征比较;如果确定匹配,则将所述电信号特征分类为第一现场快速瞬时事件;以及依据成组的预定的阈值范围确定所述第一现场快速瞬时事件的严重程度级别。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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