[发明专利]异常检测系统、异常检测方法以及存储介质无效
申请号: | 201080029631.6 | 申请日: | 2010-06-28 |
公开(公告)号: | CN102473593A | 公开(公告)日: | 2012-05-23 |
发明(设计)人: | 守屋刚;梅原康敏;片冈勇树;中谷理子 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/205;H01L21/3065 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种高精度地对装置中产生的异常进行检测的异常检测系统。对等离子体处理装置(2)所产生的异常进行检测的异常检测系统(100)具备:多个超声波传感器(41),其检测由异常的产生所引起的AE;分配器(65),其将超声波传感器(41)的各输出信号分别分配为第一信号和第二信号;触发器(52),其例如以10kHz对第一信号进行采样,在检测出规定的特征时产生触发信号;触发产生时刻计数器(54),其接收触发信号并决定触发产生时刻;数据记录器(55),其例如以1MHz对第二信号进行采样来制作采样数据;以及PC(50),其通过对采样数据中的与以由触发产生时刻计数器(54)决定的触发产生时刻为基准的固定期间相对应的数据进行波形分析,对等离子体处理装置(2)所产生的异常进行分析。 | ||
搜索关键词: | 异常 检测 系统 方法 以及 存储 介质 | ||
【主权项】:
一种异常检测系统,其用于对处理装置中产生的异常进行检测,该异常检测系统特征在于,包括:多个超声波传感器,其用于检测在上述处理装置中产生的声发射;分配单元,其将上述多个超声波传感器的各输出信号分别分配为第一信号和第二信号;触发产生单元,其以第一频率对上述第一信号进行采样,在检测出规定的特征时产生触发信号;触发产生时刻决定单元,其接收上述触发信号来决定触发产生时刻;数据制作单元,其以高于上述第一频率的第二频率对上述第二信号进行采样来制作采样数据;以及数据处理单元,其通过对上述采样数据中的与以由上述触发产生时刻决定单元决定的上述触发产生时刻为基准的固定期间相对应的数据进行波形分析,对上述处理装置中产生的异常进行分析。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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