[发明专利]高生产率多孔半导体制造设备有效
申请号: | 201080030023.7 | 申请日: | 2010-05-05 |
公开(公告)号: | CN102460716A | 公开(公告)日: | 2012-05-16 |
发明(设计)人: | 乔治·卡米安;S·纳格;S·泰弥尔玛尼;M·M·莫斯莱希;K·J·克拉默;米原隆夫 | 申请(专利权)人: | 速力斯公司 |
主分类号: | H01L31/00 | 分类号: | H01L31/00;H01L31/09 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 谭志强 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明能够实现高生产率制造半导体基分离层(由单层或多层多孔半导体如多孔硅制成,包括单一孔隙度或多种孔隙度层)、光学反射器(由多层/多种孔隙度的多孔半导体如多孔硅制成),形成用于抗反射涂层、钝化层的多孔半导体(如多孔硅)以及多界面、多带隙太阳能电池(例如,通过在晶体硅薄膜或晶圆基太阳能电池上形成可变带隙的多孔硅发射器)。其他应用包括用于脱模的MEMS分离层和牺牲层的制造以及MEMS装置制造、膜形成和浅沟槽隔离(STI)多孔硅(使用带有最佳孔隙度并在之后氧化形成的多孔硅)。另外,本公开可应用在光伏、MEMS(包括传感器和致动器(单独操作的或与集成半导体微电子集成的))、半导体微电子芯片和光电子的一般领域。 | ||
搜索关键词: | 生产率 多孔 半导体 制造 设备 | ||
【主权项】:
一种用于在多个半导体晶圆上制造多孔半导体层的设备,包括:用于产生电流的第一电极和第二电极;以堆叠布置的多个半导体晶圆,其中每个所述半导体晶圆通过一围绕所述半导体晶圆设置的边缘晶圆密封保持在原位,其中所述堆叠布置可以相对于垂直方向成任何角度;向所述设备提供电解质的电解质供给端;以及设置在每个所述多个半导体晶圆之间的多个电解质通道或电解质隔室,用于向每个所述半导体晶圆的至少一表面提供所述电解质以及用于从所述表面移除气体。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的