[发明专利]多层比色传感器阵列有效
| 申请号： | 201080032488.6 | 申请日： | 2010-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN102460157A | 公开（公告）日： | 2012-05-16 |
| 发明（设计）人： | 尼尔·A·拉科;迈克尔·S·文德兰 | 申请（专利权）人： | 3M创新有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/483 | 分类号： | G01N33/483;G01N33/497;G01N21/25;G01N21/00 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 陈源;张天舒 |
| 地址： | 美国明*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本文公开了用来检测被分析物存在的方法和装置。此类方法和装置可包括阵列，所述阵列包括至少两个对所关注的被分析物响应不同的感测元件。所述感测元件各自包括至少光学响应层，所述光学响应层包括至少对被分析物高度响应的子层。所述阵列的至少一个感测元件还包含对被分析物响应最小的子层，所述子层构成所述光学响应层的厚度的一部分。本文还公开了制备和使用此类感测元件阵列的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 多层 比色 传感器 阵列 | ||
【主权项】：
一种用于光学检测被分析物的阵列，所述阵列包括至少两个能够单独光学询问的感测元件，其中每一感测元件包括位于两个反射层之间的光学响应层，其中每一感测元件的所述光学响应层包括至少对被分析物高度响应的第一子层，并且其中所述感测元件中的至少一个感测元件的所述光学响应层还包括对被分析物响应最小的第二子层，其中每一感测元件的所述第一子层和所述第二子层各自具有某一厚度，并且其中一个感测元件的所述第一子层和所述第二子层的厚度分别显著不同于另一个感测元件的所述第一子层和所述第二子层的厚度。
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