[发明专利]测定机器系统内运行用料的化学和/或物理特性的方法与装置无效
| 申请号： | 201080035814.9 | 申请日： | 2010-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN102472704A | 公开（公告）日： | 2012-05-23 |
| 发明（设计）人： | 雷米久什·帕斯图夏克;莱恩加·夸赫;科斯廷·威斯纳;赖纳·哈尔蒂希 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G01N21/03 | 分类号： | G01N21/03;G01N21/85 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 李慧 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种测定一机器系统(2)(尤其是一浮动设备中的机器系统)内运行用料的化学和/或物理特性的方法，其中，用光照射所述运行用料并且对透射所述运行用料或者被所述运行用料反射的光进行光谱分析，根据本发明，所述运行用料受照时至少具有一选自一规定温度范围的温度，优选正好具有一规定温度。在此情况下，即使出现例如浮动设备所遇到的环境温度变化，也能为所述光谱分析提供始终保持稳定的框架条件，从而使分析精度得到改善。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 机器 系统 运行 用料 化学 物理 特性 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种测定一机器系统(2)(尤其是一浮动设备中的机器系统)内运行用料的化学和/或物理特性的方法，其中，用光照射所述运行用料并且对透射所述运行用料或者被所述运行用料反射的光进行光谱分析，其特征在于，所述运行用料受照时至少具有一预定温度范围以内的温度，优选正好具有一预定温度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西门子公司，未经西门子公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201080035814.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：域名出售方法和系统
- 下一篇：具有内部电力输送的设备
