[发明专利]FRET测量方法及装置无效
| 申请号： | 201080042653.6 | 申请日： | 2010-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN102597746A | 公开（公告）日： | 2012-07-18 |
| 发明（设计）人： | 中田成幸;林弘能;星岛一辉 | 申请（专利权）人： | 三井造船株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N15/14 |
| 代理公司： | 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 | 代理人： | 杨颖;张一军 |
| 地址： | 日本国东京都*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种FRET测量方法及装置，能够求出在标记作为测量对象的活细胞的蛋白质的供体分子中与受体分子结合且发生FRET的供体分子的比例，其中，对于第一分子的浓度和第二分子的浓度比不同的多个预先测量样品，计算出第一分子的荧光寿命，并计算出第一分子的荧光寿命的最小值；照射对强度进行了时间调制的激光，并测量出测量样品被激光照射而发出的荧光；利用所测量的荧光信号，计算出第一分子的荧光寿命；利用第一分子的荧光寿命的最小值和所计算出的第一分子的荧光寿命，计算出测量样品中的第一分子中发生FRET的第一分子的比例。 | ||
| 搜索关键词： | fret 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
一种FRET测量方法，将激光照射在用第一分子和第二分子进行标记的测量样品上，并测量能量从第一分子朝向第二分子转移的FRET，其特征在于，该测量方法包括如下步骤：最短荧光寿命计算步骤，对于第一分子浓度和第二分子浓度之比不同的多个预先测量样品，计算出第一分子的荧光寿命，并计算出第一分子的荧光寿命的最小值；照射步骤，将对强度进行了时间调制的激光照射在所述测量样品上；测量步骤，测量所述测量样品被所述激光照射而发出的荧光；第一分子荧光寿命计算步骤，利用所述测量步骤中被测量的荧光信号计算出第一分子的荧光寿命；FRET发生率计算步骤，利用在所述最短荧光寿命计算步骤中计算出的第一分子荧光寿命的最小值和计算出的所述第一分子荧光寿命，计算出所述测量样品中的第一分子中发生FRET的第一分子的比例。
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