[发明专利]模拟指点键结构

摘要

公开了一种模拟指点键结构，其具有：刚性键顶部；围绕构件，其具有所述刚性主体键顶部通过其暴露的孔；支撑构件，刚性键顶部固定在该支撑构件上并且其中允许弹性返回部分在沿着键顶部的表面的方向上移动/返回；环形磁性构件，其在围绕构件的下侧固定到支撑构件并且定位在刚性键顶部与弹性返回部分之间；磁性传感器，其检测由磁性构件与刚性键顶部相关移动所引起的磁通量密度的改变；环形屏障板，其设置在磁性构件的表面上并且具有定位在围绕构件的孔内的内周部分；键顶部支撑板，刚性键顶部被结合到键顶部支撑板上并且其中其外周部分定位在屏障板的下侧，并且具有比屏障板的内径更大的外径；以及弹性构件，其固定到支撑构件的下侧并且允许键顶部沿着支撑构件的厚度方向移动/返回。

主权项

一种模拟指点键结构，包括：第一刚性主体键顶部；围绕构件，其设置为围绕所述第一刚性主体键顶部，并且具有所述第一刚性主体键顶部通过其暴露的孔；支撑构件，所述第一刚性主体键顶部固定在所述支撑构件的前表面上，其中，所述支撑构件具有设置在围绕所述第一刚性主体键顶部的区域的至少一部分中的弹性返回部分，并且所述弹性返回部分允许所述第一刚性主体键顶部在沿着所述第一刚性主体键顶部的表面的方向上移动，并且可以消除所述移动；环形磁性构件，其设置在所述围绕构件的后表面侧，从而以使得所述环形磁性构件的至少一部分置于所述第一刚性主体键顶部与所述弹性返回部分之间的方式，固定到所述支撑构件并且围绕所述第一刚性主体键顶部；磁性传感器，其测量由于与所述第一刚性主体键顶部一同移动的所述环形磁性构件的位移引起的磁通量密度的改变；遮蔽板，其具有环形形状，并且以使得所述遮蔽板的内周部分定位在所述围绕构件的孔内的方式设置在所述环形磁性构件的表面上；键顶部支撑板，所述第一刚性主体键顶部被安装到所述键顶部支撑板的表面上，其中，所述键顶部支撑板的外周部分定位在所述遮蔽板的后表面侧，并且所述键顶部支撑板具有比所述遮蔽板的内径更大的外径；以及弹性构件，其固定到所述支撑构件的后表面，其中所述弹性构件允许所述第一刚性主体键顶部沿着所述支撑构件的厚度方向移动，并且可以消除所述移动。