[发明专利]分栅式场效应晶体管有效
申请号: | 201080046269.3 | 申请日: | 2010-10-20 |
公开(公告)号: | CN102598274A | 公开(公告)日: | 2012-07-18 |
发明(设计)人: | K.特里尔;G.杨;C.帕克 | 申请(专利权)人: | 维西埃-硅化物公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L21/336 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 丁艺;沙捷 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种分栅式场效应晶体管装置。该装置包括分栅式结构,其具有沟槽、栅电极和源电极。第一多晶硅层被设置在该沟槽内,并被连接到栅电极上。第二多晶硅层被连接到源电极上,其中,该第一多晶硅层和第二多晶硅层是独立的。 | ||
搜索关键词: | 分栅式 场效应 晶体管 | ||
【主权项】:
一种分栅式场效应晶体管装置,包括:分栅式结构,具有沟槽、栅电极和源电极;第一多晶硅层,被设置在所述沟槽之内,并且连接到所述源电极;第二多晶硅层,连接到所述栅电极,其中,所述第一多晶硅层和所述第二多晶硅层是独立的。
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