[发明专利]储层分析的系统和方法有效
| 申请号： | 201080050800.4 | 申请日： | 2010-11-18 |
| 公开（公告）号： | CN102612660A | 公开（公告）日： | 2012-07-25 |
| 发明（设计）人： | D·E·罗安 | 申请（专利权）人： | 雪佛龙美国公司 |
| 主分类号： | G01V11/00 | 分类号： | G01V11/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 高青 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 自动评估目标感兴趣地质区与多个已知感兴趣地质区之间的相似性的系统和方法包括选择描述目标感兴趣地质区的储层特性的多个定量参数以及根据所选参数的值来定义图形目标线。为多个已知感兴趣地质区的至少一些图形地构建比较线，各个比较线代表描述已知感兴趣地质区中的各个地质区的相应特性的定量参数的各个值。根据描绘的目标线和比较线，计算每条比较线与目标线之间的相似性因子。根据计算的相似性因子来排序比较线，并图形地显示相似性因子与相似性等级的关系曲线。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种自动评估目标感兴趣地质区与多个已知感兴趣地质区之间的相似性的方法，包含：选择描述目标感兴趣地质区的储层特性的多个定量参数以及根据所选参数的值来定义图形目标线；为多个已知感兴趣地质区的至少一些图形地构建比较线，其中，各个比较线代表描述已知感兴趣地质区中的各个地质区的相应特性的定量参数的各个值；根据描绘的目标线和比较线，计算每条比较线与目标线之间的相似性因子；根据计算的相似性因子来排序所述比较线；以及图形地显示相似性因子与相似性等级的关系曲线。
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