[发明专利]测距装置、测距方法、测距程序及测距系统以及拍摄装置有效

专利信息
申请号: 201080051511.6 申请日: 2010-10-26
公开(公告)号: CN102597693A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 石山英二;增田智纪 申请(专利权)人: 富士胶片株式会社
主分类号: G01C3/06 分类号: G01C3/06;G01C3/00;H04N5/225;H04N13/02
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 高培培;车文
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的测距装置,包括:图像输入部,输入从不同的视点拍摄被拍摄体得到的多个视点图像;取得部,关注多个关注距离中的每一个关注距离,从用于使所述视点图像的二维坐标和实空间的三维坐标匹配的多个校准数据中取得与所述各关注距离对应的校准数据;图像校正部,对于所述各关注距离,基于所述各校准数据校正所述多个视点图像;视差运算部,对于所述各关注距离,在校正后的所述多个视点图像间算出视差;比较部,在关注的所述多个关注距离上比较校正后的所述视点图像,由此确定最优校准数据;距离运算部,基于所述视差算出被拍摄体距离;输出部,将从利用所述最优校准数据校正后的所述视点图像间的所述视差算出的被拍摄体距离作为测距结果输出。
搜索关键词: 测距 装置 方法 程序 系统 以及 拍摄
【主权项】:
一种测距装置,包括:图像输入部,输入通过多个拍摄设备从不同的视点拍摄被拍摄体得到的多个视点图像;校准数据取得部,关注多个关注距离中的每一个关注距离,从用于使所述视点图像的二维坐标和实空间的三维坐标匹配的多个校准数据中取得与所述各关注距离对应的校准数据;图像校正部,对于所述各关注距离,基于所述各校准数据校正所述多个视点图像;视差运算部,对于所述各关注距离,在校正后的所述多个视点图像间算出视差;比较部,在关注的所述多个关注距离上比较校正后的所述视点图像,由此从所述多个校准数据中确定最优校准数据;距离运算部,基于所述视差算出被拍摄体距离;输出部,将从利用所述最优校准数据校正后的所述视点图像间的所述视差算出的被拍摄体距离作为测距结果输出。
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