[发明专利]涂敷装置有效
申请号: | 201080053957.2 | 申请日: | 2010-12-02 |
公开(公告)号: | CN102665889A | 公开(公告)日: | 2012-09-12 |
发明(设计)人: | 长谷川浩司;长门琢也;松井航 | 申请(专利权)人: | 株式会社保锐士 |
主分类号: | B01J2/12 | 分类号: | B01J2/12;A23P1/08;A61J3/06;B01J2/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 雒运朴 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 在旋转滚筒(11)的内部设有测定部(13),测定部(13)具备设置在另一端部(11b)的内壁的中央区域的透光构件(13a)和光学传感器(13b)。在粉粒体的涂敷处理时,通过NIR传感器(13b)经由透光构件(13a)对关于与透光构件(13a)的表面接触的粉粒体层(A)的粒子的物性(覆膜厚度、水分、涂敷性能、杂质等)的信息进行实时测定,并通过NRI分光分析装置的处理部对该数据进行处理并监视,根据该结果,通过反馈控制或手动操作对涂敷操作条件(供气风量、供气温度、喷涂条件、旋转滚筒(1)的转速等)进行适当调整,由此能够进行高品质的涂敷处理。 | ||
搜索关键词: | 装置 | ||
【主权项】:
一种涂敷装置,其具备旋转滚筒,该旋转滚筒将需要处理的粉粒体收容在内部,且被驱动为绕其轴线旋转,所述涂敷装置的特征在于,在所述旋转滚筒的内部设有测定部,该测定部具备:以与所述旋转滚筒内部的粉粒体层接触的方式配置的透光构件;经由该透光构件来测定与该透光构件接触的所述粉粒体层的粒子的物性的光学传感器。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社保锐士,未经株式会社保锐士许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201080053957.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:换档控制方法、系统及用于牵引工作的工程机械
- 下一篇:具有检测设备的泵设备