[发明专利]用于微分相衬成像的扫描系统有效
申请号: | 201080055835.7 | 申请日: | 2010-12-08 |
公开(公告)号: | CN102651998A | 公开(公告)日: | 2012-08-29 |
发明(设计)人: | K·J·恩格尔;D·格勒;G·福格特米尔;T·克勒 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 黄云铎;陈松涛 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 本发明涉及X射线微分相衬成像领域。为了扫描大的对象并且为了改善的对比噪声比,提供一种用于对对象(18)成像的X射线设备(10)。X射线设备(10)包括X射线发射器装置(12)以及X射线检测器装置(14),其中,所述X射线发射器装置(14)适于发射X射线束(16)通过对象(18)到所述X射线检测器装置(14)上。X射线束(16)是至少部分空间相干的以及扇形的。所述X射线检测器装置(14)包括相位光栅(50)及吸收体光栅(52)。X射线检测器装置(14)包括用于检测X射线的面检测器(54),其中,所述X射线设备适于从检测到的X射线产生图像数据并且适于从所述X射线图像数据提取相位信息,所述相位信息与由对象(18)导致的X射线的相移相关。所述对象(18)具有大于X射线检测器(18)的检测面的感兴趣区域(32),并且所述X射线设备(10)适于通过对所述对象(18)和所述X射线检测器装置(14)相对彼此进行移动来产生所述感兴趣区域(32)的图像数据。 | ||
搜索关键词: | 用于 微分 成像 扫描 系统 | ||
【主权项】:
一种用于对对象(18)成像的X射线设备,包括:X射线发射器装置(12),X射线检测器装置(14),其中,所述X射线发射器装置(12)适于发射X射线束(16)通过所述对象(18)到所述X射线检测器装置(14)上,其中,所述X射线束(16)是至少部分空间相干的,其中,所述X射线束(16)是扇形的,其中,所述X射线检测器装置(14)包括相位光栅(50)及吸收体光栅(52),其中,所述X射线检测器装置(14)包括用于检测X射线的检测器(54),其中,所述X射线检测器是面检测器(54),其中,所述X射线设备适于从所检测到的X射线产生图像数据并且适于从所述X射线图像数据提取相位信息,所述相位信息与由所述对象(18)导致的X射线的相移相关,其中,所述对象(18)具有大于所述X射线检测器(18)的检测面的感兴趣区域(32),并且所述X射线设备适于通过对所述对象(18)和所述X射线检测器装置(14)相对彼此进行移动来产生所述感兴趣区域(32)的图像数据。
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