[发明专利]用于测试待测装置的方法及设备有效
申请号: | 201080062069.7 | 申请日: | 2010-01-20 |
公开(公告)号: | CN102869998A | 公开(公告)日: | 2013-01-09 |
发明(设计)人: | 吉尔·戈洛夫;托马斯·亨克;罗纳德·拉森;尤瑞驰·那克 | 申请(专利权)人: | 爱德万测试(新加坡)私人有限公司 |
主分类号: | G01R31/319 | 分类号: | G01R31/319;G01R31/28 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 宋鹤 |
地址: | 新加坡*** | 国省代码: | 新加坡;SG |
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摘要: | 公开了一种测试待测装置(130)的概念,该概念包括:从至少一个测试通道集成电路(240-n)接收描述至少一个硬件资源(150)的期望操作的至少一个逻辑控制命令(U-CTRL-n),所述至少一个测试通道集成电路被专用于借助于至少一个硬件资源(615;616)与所述待测装置(130)的输入针脚或输出针脚进行通信;并且借助于资源控制装置(260)将所述至少一个逻辑控制命令(U-CTRL-n)转换成用于所述至少一个硬件资源的至少一个专用控制命令(D-CTRL-n),其中所述至少一个专用控制命令(D-CTRL-n)适合于所述至少一个硬件资源(615;616)的物理实施方式。 | ||
搜索关键词: | 用于 测试 装置 方法 设备 | ||
【主权项】:
一种用于测试待测装置(130)的设备(200;600),所述设备包括:测试通道集成电路(240),适于借助于硬件资源(150;350;450;550;615;616;650)与所述待测装置(130)的输入针脚或输出针脚通信;以及资源控制装置(260),被耦接至所述测试通道集成电路(240)以接收描述所述硬件资源(150;350;450;550;615;616;650)的期望操作的逻辑控制命令(U‑CTRL),其中所述资源控制装置(260)适于将所述逻辑控制命令(U‑CTRL)转换成用于所述硬件资源的专用控制命令(D‑CTRL),其中所述专用控制命令(D‑CTRL)适合于所述硬件资源(150;350;450;550;615;616;650)的物理实施方式。
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