[发明专利]X射线探测器的校准方法无效
| 申请号： | 201080062557.8 | 申请日： | 2010-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN102725659A | 公开（公告）日： | 2012-10-10 |
| 发明（设计）人： | F·格拉塞尔;M·加尔桑 | 申请（专利权）人： | 原子能和能源替代品委员会 |
| 主分类号： | G01T7/00 | 分类号： | G01T7/00 |
| 代理公司： | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人： | 程伟;王锦阳 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | 本发明总体上涉及一种X射线探测系统的校准方法，所述系统至少包括X射线发生器和探测组件，所述探测组件包括半导体探测器像素矩阵（10）以及处理和校准电子设备（20，21，22，23）。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 探测器 校准 方法 | ||
【主权项】：
一种X射线探测系统的校准方法，所述系统至少包括一个X射线发生器和探测阵列，所述探测阵列包括探测半导体像素矩阵（10）以及处理和校准电子设备（20，21，22，23），其特征在于，对于所有或一些像素所述校准方法包括以下各个步骤：‑以额定高电压运行所述X射线发生器，所述发生器与所述探测器对置；‑使用所述处理和校准电子设备，经由发生器所产生的辐射效应，对每一个像素所发出的脉冲进行计数;‑为每一像素建立被计数脉冲的振幅分布；‑将统计指标应用于每一个振幅分布，以识别对应于与所述统计指标关联的能量的特定振幅，与所述振幅分布有关的所述统计指标为所述分布的百分点或均值；以及‑使用处理和校准电子设备调整每一个像素的校准参数，从而将由此建立的能量‑振幅关系考虑在内。
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