[发明专利]微粒组成分析方法及微粒组成分析装置有效
| 申请号： | 201080065448.1 | 申请日： | 2010-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN103026199A | 公开（公告）日： | 2013-04-03 |
| 发明（设计）人： | 竹川畅之;中村贵之;鲛岛友纪;武居正彦;平山纪友 | 申请（专利权）人： | 国立大学法人 东京大学;富士电机株式会社 |
| 主分类号： | G01N1/22 | 分类号： | G01N1/22;G01N27/62 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 马洪 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供能在线定量地分析大气微粒的各化学组成的质量浓度的微粒组成分析方法及微粒组成分析装置。该微粒组成分析方法在使气体试样中的微粒的粒子束聚焦，并将该粒子束照射到捕捉体的狭小的区域而捕捉到所述微粒之后，对所述狭小的区域集中照射能量线来使由所述捕捉体捕捉到的微粒汽化、升华或反应以生成脱离成分，从而来对所述脱离成分进行分析，其中所述捕捉体具有用于将剩余的气相成分去除并捕捉所述粒子束中的微粒的网状结构体。另外，为了进行该微粒组成分析方法还构成微粒组成分析装置(50)，其至少包括：减压室(11a～11c)；微粒的粒子束生成器(1)；具有用于捕捉微粒的网状结构体的捕捉体(7)；能量线供给器(5)；捕捉体保持容器(17)；与所述捕捉体保持容器连接的导管(8)；以及用于分析微粒的脱离成分的分析器(10)。 | ||
| 搜索关键词： | 微粒 组成 分析 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种微粒组成分析方法，其特征在于，在使气体试样中的微粒的粒子束聚焦，并将该粒子束照射到捕捉体的狭小的区域而使所述捕捉体捕捉到所述微粒之后，对所述狭小的区域集中照射能量线来使由所述捕捉体捕捉到的微粒汽化、升华或反应以生成脱离成分，从而来对所述脱离成分进行分析，其中所述捕捉体具有用于将剩余的气相成分去除并捕捉所述粒子束中的微粒的网状结构体。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国立大学法人 东京大学;富士电机株式会社，未经国立大学法人 东京大学;富士电机株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201080065448.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：作为ALK5和/或ALK4抑制剂的2-吡啶基取代的咪唑
- 下一篇：可转换摇椅
