[发明专利]一种HIF控制器的功能测试方法有效
| 申请号： | 201110005516.1 | 申请日： | 2011-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN102117070A | 公开（公告）日： | 2011-07-06 |
| 发明（设计）人： | 刘梅英;周敏心;薛志明 | 申请（专利权）人： | 福州瑞芯微电子有限公司 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 | 代理人： | 翁素华 |
| 地址： | 350000 福建省*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本发明提供一种HIF控制器的功能测试方法，具体包括如下步骤：步骤10、将带SRAM的MCU屏接口设置在一辅助测试芯片上；步骤20、将HIF接口分别与上述MCU屏接口、辅助测试芯片对应连接；步骤30、通过HIF接口发送测试数据到MCU屏接口，将HIF接口发送的测试数据与正确数据进行比较，若错误，则判定HIF接口错误，若正确，则再通过MCU屏接口发送测试数据到HIF接口，将HIF接口接收的测试数据与正确数据进行比较，若错误，则判定HIF接口错误，若正确，才判定HIF接口正确。本发明测试方法是一种直观的测试方法，测试原理简单，而且测试的成本低，测试全面、灵活。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 hif 控制器 功能 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种HIF控制器的功能测试方法，其特征在于，具体包括如下步骤：步骤10、将带SRAM的MCU屏接口设置在一辅助测试芯片上；步骤20、将HIF接口分别与上述MCU屏接口、辅助测试芯片对应连接；步骤30、通过HIF接口发送测试数据到MCU屏接口，将HIF接口发送的测试数据与正确数据进行比较，若错误，则判定HIF接口错误，若正确，则再通过MCU屏接口发送测试数据到HIF接口，将HIF接口接收的测试数据与正确数据进行比较，若错误，则判定HIF接口错误，若正确，才判定HIF接口正确。
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