[发明专利]位移测量装置和速度测量装置无效
| 申请号： | 201110020010.8 | 申请日： | 2011-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN102192709A | 公开（公告）日： | 2011-09-21 |
| 发明（设计）人： | 福原隆 | 申请（专利权）人： | 佳能株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;G01P3/68 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 李颖 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及位移测量装置和速度测量装置。用于测量移动物体(102)的位移量的位移测量装置(100)包括：使用从发光区域(101)发射的光束来照射移动物体(102)的光源；包含沿移动物体(102)的移动方向被布置的多个光接收区域并且形成在移动物体(102)的多个凹面(103)上被反射的光束的图像以接收光的光电二极管阵列(104、105)；以及基于通过形成光束的图像而在光电二极管阵列(104、105)上被形成的发光区域图像(106)的移动量来测量移动物体(102)的位移量的测量单元。 | ||
| 搜索关键词： | 位移 测量 装置 速度 | ||
【主权项】：
一种用于测量移动物体(102)的位移量的位移测量装置(100)，所述位移测量装置包括：光源，被配置为使用从发光区域(101)发射的光束来照射所述移动物体；光接收元件，包含沿所述移动物体的移动方向被布置的多个光接收区域(104、105)，所述光接收元件被布置为使得从所述发光区域(101)发射的并从所述移动物体中的凹面(103)被反射的光束在所述光接收元件的光接收表面上被成像；以及测量单元，被配置为基于在所述光接收元件上形成的发光区域图像(106)的移动量来测量所述移动物体的位移量。
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