[发明专利]一种电子封装用低成本抗老化钎料及其制备方法有效
申请号: | 201110020418.5 | 申请日: | 2011-01-18 |
公开(公告)号: | CN102172805A | 公开(公告)日: | 2011-09-07 |
发明(设计)人: | 孙凤莲;刘洋;刘洋 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨理工大学 |
主分类号: | B23K35/26 | 分类号: | B23K35/26;C22C13/02;C22C1/02 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 韩末洙 |
地址: | 150080 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | 一种电子封装用低成本抗老化钎料及其制备方法,它涉及软钎料及其制备方法,本发明解决了现有的低含银量无铅钎料的含银量仍较高、添加元素种类多、冶金制备复杂、易产生固化裂纹及熔点较高的技术问题。本钎料由0.60%~0.79%的Ag、0.50%~0.90%的Cu、0.02%~0.20%的Ni、2.10%~4.00%的Bi和余量的Sn组成。制备方法:将锡、银、铜、镍和铋进行两次熔炼,得到钎料。本钎料熔点仅为205℃~219℃、润湿性和可焊性良好,成本比SAC305钎料降低30%~43%,该钎料的焊点强度、抗高温老化性能比SAC305和SAC0307提高。可用于电子组装、封装的手工焊、波峰焊和再流焊领域。 | ||
搜索关键词: | 一种 电子 封装 低成本 老化 料及 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种电子封装用低成本抗老化钎料,其特征在于电子封装用低成本抗老化钎料按质量百分比由0.60%~0.79%的Ag、0.50%~0.90%的Cu、0.02%~0.20%的Ni、2.10%~4.00%的Bi和余量的Sn组成。
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