[发明专利]测试装置及测试方法无效

专利信息
申请号: 201110025922.4 申请日: 2011-01-24
公开(公告)号: CN102193057A 公开(公告)日: 2011-09-21
发明(设计)人: 矢口刚史;平出守 申请(专利权)人: 爱德万测试株式会社
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 代理人: 齐永红
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种测试被测试器件的测试装置,其配置有在被测试器件之间传输信号的多个测试模块、连接多个测试模块的总线、经由总线控制多个测试模块的测试控制部;测试模块具有在被测试器件之间传输信号的测试部、控制测试部的模块控制部;各个测试模块中的模块控制部经由总线与其它测试模块的模块控制部传输信号。
搜索关键词: 测试 装置 方法
【主权项】:
一种测试被测试器件的测试装置,其特征在于,配置有:多个测试模块,其在前述被测试器件之间传输信号;总线,其转接前述多个测试模块;测试控制部,其经由前述总线控制前述多个测试模块;前述多个测试模块中的各个模块具有:测试部,其在前述被测试器件之间传输信号;模块控制部,其控制前述测试部;各个前述测试模块中的前述模块控制部经前述总线,与其它前述测试模块的前述模块控制部传输信号。
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