[发明专利]原子层沉积制备Al掺杂ZnO透明导电薄膜的方法无效

专利信息
申请号: 201110030298.7 申请日: 2011-01-28
公开(公告)号: CN102051594A 公开(公告)日: 2011-05-11
发明(设计)人: 宋佳;姜来新;牟海川;尹桂林;余震;何丹农 申请(专利权)人: 上海交通大学;上海纳米技术及应用国家工程研究中心有限公司
主分类号: C23C16/40 分类号: C23C16/40;C23C16/44
代理公司: 上海交达专利事务所 31201 代理人: 王锡麟;王桂忠
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种光电材料技术领域的原子层沉积制备Al掺杂ZnO透明导电薄膜的方法,通过将基片加热后依次进行多组复合沉积、每组复合沉积由多次ZnO沉积和Al掺杂沉积组成,得到原子层沉积制备的Al掺杂ZnO透明导电薄膜。本发明制备得到的透明导电薄膜均匀性优异;导电性好,电阻率可低至7.2×10-4cm;可见光透过率高,可达90%以上。
搜索关键词: 原子 沉积 制备 al 掺杂 zno 透明 导电 薄膜 方法
【主权项】:
一种原子层沉积制备Al掺杂ZnO透明导电薄膜的方法,其特征在于,通过将基片加热后依次进行多组复合沉积、每组复合沉积由多次ZnO沉积和Al掺杂沉积组成,得到原子层沉积制备的Al掺杂ZnO透明导电薄膜。
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