[发明专利]微粒分析设备和微粒分析方法无效
| 申请号： | 201110030405.6 | 申请日： | 2011-01-27 |
| 公开（公告）号： | CN102192871A | 公开（公告）日： | 2011-09-21 |
| 发明（设计）人： | 福本敦;外石满 | 申请（专利权）人： | 索尼公司 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明披露了微粒分析设备和微粒分析方法。一种微粒分析设备，包括：光源，被配置为用光照射微粒；声光调制器，被配置为衍射由于光照射而从微粒生成的荧光；狭缝，被配置为仅允许在来自所述声光调制器的衍射光束中衍射中心波长区中的衍射光透过；以及检测器，被配置为检测透过狭缝的衍射中心波长区中的衍射光。 | ||
| 搜索关键词： | 微粒 分析 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种微粒分析设备，包括：光源，被配置为用光照射微粒；声光调制器，被配置为衍射由于所述光照射而从所述微粒生成的荧光；狭缝，被配置为仅允许在来自所述声光调制器的衍射光束中衍射中心波长区中的衍射光透过；以及检测器，被配置为检测透过所述狭缝的所述衍射中心波长区中的所述衍射光。
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