[发明专利]半导体器件的制造方法无效
申请号: | 201110034081.3 | 申请日: | 2011-01-28 |
公开(公告)号: | CN102446705A | 公开(公告)日: | 2012-05-09 |
发明(设计)人: | 李基领;金辰寿 | 申请(专利权)人: | 海力士半导体有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/308 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 顾红霞;何胜勇 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开一种半导体器件的制造方法,包括:在半导体器件上形成分隔线图案以及与分隔线图案的端部连接的分隔垫图案。在分隔线图案和分隔垫图案的侧壁上形成间隔物绝缘层。在间隔物绝缘层之间形成间隙填充层。形成第一切割掩摸图案以使分隔线图案与分隔垫图案之间的连接部分露出。使用第一切割掩摸图案作为掩摸移除与间隔物绝缘层相邻的分隔线图案和间隙填充层。形成包括第一图案和第二图案的第二切割掩摸图案。使用第二切割掩摸图案作为掩摸移除间隔物绝缘层以在半导体基板中形成栅极沟槽。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体器件的制造方法,包括:在半导体基板上形成分隔线图案以及与所述分隔线图案的端部连接的分隔垫图案;在所述分隔线图案和所述分隔垫图案的侧壁上形成间隔物绝缘层;在所述间隔物绝缘层之间形成间隙填充层;形成第一切割掩摸图案以使所述分隔线图案与所述分隔垫图案之间的连接部分露出;使用所述第一切割掩摸图案作为掩摸移除与所述间隔物绝缘层相邻的所述分隔线图案和所述间隙填充层;形成包括第一图案和第二图案的第二切割掩摸图案,其中,所述第一图案与被所述第一切割掩摸图案露出的区域相邻并覆盖所述间隙填充层、与所述间隙填充层相邻的所述间隔物绝缘层、和与所述间隔物绝缘层相邻的所述分隔线图案的一部分,并且所述第二图案覆盖所述分隔线图案、与所述分隔线图案相邻的所述间隔物绝缘层、和与所述间隔物绝缘层相邻的所述间隙填充层的一部分;以及使用所述第二切割掩摸图案作为掩摸移除所述间隔物绝缘层以在所述半导体基板中形成栅极沟槽。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于海力士半导体有限公司,未经海力士半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110034081.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种双面指南针
- 下一篇:用于冲床的照明灯转向机构
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造