[发明专利]集成电路元件及其形成方法有效

专利信息
申请号: 201110034826.6 申请日: 2011-01-30
公开(公告)号: CN102163596A 公开(公告)日: 2011-08-24
发明(设计)人: 胡宪斌;余振华;陈明发;林俊成;赖隽仁;林咏淇 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L25/00 分类号: H01L25/00;H01L25/065;H01L23/48;H01L23/00;H01L21/98
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 张浴月;刘文意
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明一实施例提供一种集成电路元件及其形成方法,该集成电路元件包括:一中介层,大抵不具有集成电路元件,其中该中介层包括:一基底,具有一第一侧及相反于该第一侧的一第二侧;多个穿基底导电结构,位于该基底之中;一第一内连线结构,位于该基底的该第一侧上,且电性耦接至至少一所述多个穿基底导电结构;以及一第二内连线结构,位于该基底的该第二侧上,且电性耦接至至少一所述多个穿基底导电结构;一第一芯片,接合于该第一内连线结构之上;以及一第二芯片,接合于该第二内连线结构之上。本发明的实施例可避免可能造成的合格率损失。此外,流程时间可减少。
搜索关键词: 集成电路 元件 及其 形成 方法
【主权项】:
一种集成电路元件,包括:一中介层,大抵不具有集成电路元件,其中该中介层包括:一基底,具有一第一侧及相反于该第一侧的一第二侧;多个穿基底导电结构,位于该基底之中;一第一内连线结构,位于该基底的该第一侧上,且电性耦接至至少一所述多个穿基底导电结构;以及一第二内连线结构,位于该基底的该第二侧上,且电性耦接至至少一所述多个穿基底导电结构;一第一芯片,接合于该第一内连线结构之上;以及一第二芯片,接合于该第二内连线结构之上。
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