[发明专利]一种快速准确测定低湿气体露点的方法和装置无效

专利信息
申请号: 201110036871.5 申请日: 2011-02-12
公开(公告)号: CN102636519A 公开(公告)日: 2012-08-15
发明(设计)人: 章啸;李军远 申请(专利权)人: 北京兴泰学成仪器有限公司
主分类号: G01N25/66 分类号: G01N25/66
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 101102 北京市通州区金*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种利用冷镜式原理测定低湿度气体露点的方法和装置。在快速制冷过程中,镜面反/散射光能量变化超过设定值作为露点预判依据;控制器调整制冷电压,使镜面温度迅速接近此温度;当温度的调整幅度小于设定值,反/散射光能量达到设定值且变化量趋近于零时,判断此时的镜面温度即为被测气体的露点。本发明解决了现有方法和装置利用充分结露后消露过程测定低湿度气体露点所需时间长、需要借助于辅助加湿装置或不能完成测定的问题,具有不受测定环境条件和待测气体湿度大小等因素限制以及不需要辅助加湿装置、结构简单的特点。
搜索关键词: 一种 快速 准确 测定 低湿 气体 露点 方法 装置
【主权项】:
一种快速准确测定低湿气体露点的装置,包括冷镜室、制冷电路、光电测量电路、温度测量电路,控制器和输入输出单元;其中冷镜室内有发光二极管、光敏二极管、制冷单元、反射镜面及铂电阻温度传感器;光电测量电路与冷镜室内的发光二极管和光敏二极管连接,制冷电路与冷镜室内的制冷单元连接,温度测量电路与铂电阻温度传感器连接;控制器控制制冷电路、光电测量电路和温度测量电路的协调工作;其特征在于所述的控制器包括以下控制步骤:记录镜面反/散射光能量的初始值;实时采集镜面反/散射光能量;计算镜面反/散射光能量的变化,并判断是否超过某一设定值;计算控制制冷电压的数字量,并转换成制冷工作电压;计算制冷电压调整前后的温度变化量,并判断是否低于某一设定值;控制制冷工作电压,使镜面反/散射光能量能量及其变化量接近设定值。
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