[发明专利]能够减小焊盘与阻焊剂之间高度差的焊盘栅格阵列封装有效

专利信息
申请号: 201110038739.8 申请日: 2011-02-16
公开(公告)号: CN102163579A 公开(公告)日: 2011-08-24
发明(设计)人: 李喜哲;郑命杞;廉根大 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L23/00 分类号: H01L23/00;H01L23/498
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 张波
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明公开了能够减小焊盘与阻焊剂之间高度差的焊盘栅格阵列封装。该焊盘栅格阵列(LGA)封装包括:基板,包括形成在基板的第一表面上的多个焊盘;半导体芯片,安装在基板的第二表面上;连接部分,连接半导体芯片和基板;以及支撑层,形成在第一焊盘的部分表面上。
搜索关键词: 能够 减小 焊剂 之间 高度 栅格 阵列 封装
【主权项】:
一种焊盘栅格阵列封装,包括:基板,包括形成在所述基板的第一表面上的多个焊盘;半导体芯片,安装在所述基板的第二表面上;连接部分,连接所述半导体芯片和所述基板;以及支撑层,形成在第一焊盘的表面的一部分上。
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