[发明专利]测试电路无效
| 申请号： | 201110042560.X | 申请日： | 2011-02-22 |
| 公开（公告）号： | CN102645624A | 公开（公告）日： | 2012-08-22 |
| 发明（设计）人： | 崔振山;郭张贤;王立平 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试电路，其包括一光耦合器、一单片机、一开关三极管以及一驱动芯片。所述光耦合器包括两个输入端以及两个输出端，所述光耦合器的两个输入端与待测端口连接，光耦合器的其中一个输出端与所述单片机的输入端连接，光耦合器的另一个输出端接地。单片机的输出端与所述开关三极管的基极连接。所述开关三极管的发射极与一外接电源连接，所述开关三极管的集电极与驱动芯片的输入端连接。所述驱动芯片的输出端与一警示设备连接。当光耦合器向所述单片机输入低电平信号时，所述单片机输出低电平信号使得开关三极管导通而输入所述外接电源的电压，所述驱动芯片输出驱动信号以驱动所述警示设备工作。该测试电路具有较佳检测能力且不易损坏。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 | ||
【主权项】：
一种测试电路，其包括一光耦合器、一单片机、一开关三极管以及一驱动芯片，所述光耦合器包括两个输入端以及两个输出端，所述光耦合器的两个输入端与一待测端口连接，光耦合器的其中一个输出端与所述单片机的输入端连接，光耦合器的另一个输出端接地，单片机的输出端与所述开关三极管的基极连接，所述开关三极管的发射极与一外接电源连接，所述开关三极管的集电极与驱动芯片的输入端连接，所述驱动芯片的输出端与一警示设备连接；当光耦合器向所述单片机输入低电平信号时，所述单片机输出低电平信号使得开关三极管导通而输入所述外接电源的电压，所述驱动芯片输出驱动信号以驱动所述警示设备工作。
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