[发明专利]半导体器件和使用相同载体在WLCSP中形成TMV和TSV的方法有效
申请号: | 201110043183.1 | 申请日: | 2011-02-23 |
公开(公告)号: | CN102163561A | 公开(公告)日: | 2011-08-24 |
发明(设计)人: | R·A·帕盖拉;林耀剑;尹胜煜 | 申请(专利权)人: | 新科金朋有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/60;H01L23/48;H01L23/52 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李娜;卢江 |
地址: | 新加坡*** | 国省代码: | 新加坡;SG |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及半导体器件和使用相同载体在WLCSP中形成TMV和TSV的方法。一种半导体器件具有安装在载体上的半导体管芯。密封剂沉积在半导体管芯和载体上。绝缘层形成在半导体管芯和密封剂上。在半导体管芯安装到载体时多个第一通路被形成为通过绝缘层和半导体管芯。在半导体管芯安装到载体时多个第二通路被形成为在与第一通路相同的方向上通过绝缘层和密封剂。在第一通路中沉积导电材料以形成导电TSV并且在第二通路中沉积导电材料以形成导电TMV。第一互连结构形成在绝缘层上并电连接到TSV和TMV。除去载体。第二互连结构形成在半导体管芯和密封剂上并电连接到TSV和TMV。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 使用 相同 载体 wlcsp 形成 tmv tsv 方法 | ||
【主权项】:
一种制造半导体器件的方法,包括:提供临时载体;在临时载体上安装半导体管芯;在半导体管芯和临时载体上沉积密封剂;在半导体管芯和密封剂上形成第一绝缘层;在半导体管芯安装到临时载体上时形成通过第一绝缘层和半导体管芯的多个第一通路;在半导体管芯安装到临时载体上时形成通过第一绝缘层和密封剂的多个第二通路;在第一通路中沉积导电材料以形成导电直通硅通路(TSV);在第二通路中沉积导电材料以形成导电直通铸模通路(TMV);在第一绝缘层上形成第一互连结构并且电连接到导电TSV和导电TMV;除去临时载体;以及在半导体管芯和密封剂上与第一互连结构相对地形成第二互连结构并且电连接到导电TSV和导电TMV。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于新科金朋有限公司,未经新科金朋有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110043183.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:黄铜矿膜的制造方法
- 下一篇:一种新型大规模制备纳米氧化亚铜的方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造