[发明专利]数据错误检查方法、数据传输方法和半导体存储装置有效
申请号: | 201110047426.9 | 申请日: | 2011-02-28 |
公开(公告)号: | CN102467975A | 公开(公告)日: | 2012-05-23 |
发明(设计)人: | 李仲缟 | 申请(专利权)人: | 海力士半导体有限公司 |
主分类号: | G11C29/44 | 分类号: | G11C29/44 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 郭放;张文 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明公开了一种存储系统的各种实施例。在一个示例性实施例中,存储系统可以包括:半导体存储装置,被配置为在读取操作中产生要经由多个数据输入/输出端子传送的数据组的列方向和行方向上的错误检查信号,并将错误检查信号与数据组一起输出;以及存储控制器,被配置为控制半导体存储装置的数据读取/写入操作,通过在写入操作中执行在要传送的数据组的列方向和行方向上的错误检查来产生错误检查信号,并将错误检查信号与数据组一起提供给半导体存储装置。 | ||
搜索关键词: | 数据 错误 检查 方法 数据传输 半导体 存储 装置 | ||
【主权项】:
一种半导体存储装置,所述半导体存储装置包括数据错误检查电路,其中,所述数据错误检查电路被配置为通过对列数据集和行数据集执行错误检查来产生错误检查信号,所述列数据集和所述行数据集包括经由多个数据输入/输出端子而输入或输出的多个数据段。
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