[发明专利]测量溶液中颗粒迁移率的方法和装置有效
申请号: | 201110050936.1 | 申请日: | 2011-02-25 |
公开(公告)号: | CN102192867A | 公开(公告)日: | 2011-09-21 |
发明(设计)人: | H-T·谢;S·P·特雷奥夫 | 申请(专利权)人: | 怀亚特技术公司 |
主分类号: | G01N15/00 | 分类号: | G01N15/00 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 赵蓉民;张全信 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明的名称是测量溶液中颗粒迁移率的方法和装置。公开了用于测量溶液中颗粒和分子的电泳淌度的方法和装置。颗粒样品放置在包含施加交流电场的两个电极的池中。单色光光束穿过样品。当被颗粒散射的光离开池时,其与未散射的光束一起被聚集和准直。光束在自由空间中与相位调制的参比光束合并。干涉形成频率调制的散斑图样,其通过光检测器阵列检测。每个阵列元件聚集窄范围的界限分明的散射角。来自每一个的信号进行解调,以提取光学相位信息,提供散射颗粒的电泳淌度的第一原理性测量。每个检测器元件提供同时的独立测量。这种固有的平行性极大地增加了在给定时间可利用的信息量。 | ||
搜索关键词: | 测量 溶液 颗粒 迁移率 方法 装置 | ||
【主权项】:
测量样品溶液的等分试样中颗粒的电泳淌度的装置,包括:A)产生相干单色光光束的装置;B)将所述相干单色光光束分割为以下光束的光学装置:1)将通过所述样品的样品光束,和2)参比光束;C)由以下组成的非传导性样品池:1)容纳所述样品等分试样的槽,2)电极,在所述电极之间电压可以施加在其中包含的所述样品等分试样上,和3)在所述槽中的光学窗口,通过该光学窗口:a)所述样品光束可以进入所述槽并且由其中包含的所述等分试样中的颗粒散射,b)所述样品光束和由所述样品等分试样中的所述颗粒散射的一部分光可以离开所述样品池;D)使离开所述样品池的未散射的所述样品光束和由所述颗粒散射并离开所述样品池的所述一部分所述样品光束光聚集和准直的光学装置;E)相对于所述样品光束的光学相位调制所述参比光束的光学相位的装置;F)合并所述参比光束与由所述颗粒散射的所述准直部分的光而形成第三相干光束的、在自由空间中的光学装置;G)光检测器元件阵列,所述第三相干光束入射在其上,每个所述检测器元件由此产生随时间变化的信号;和H)电子装置,其处理接收自每个所述光检测器元件的所述随时间变化的信号,将所述信号转化成数字表示,并将生成的数字信号传输到计算机装置以由此计算所述电泳淌度。
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