[发明专利]Bipolar电路的一种引线孔结构及制造方法有效
申请号: | 201110052595.1 | 申请日: | 2011-03-02 |
公开(公告)号: | CN102169862A | 公开(公告)日: | 2011-08-31 |
发明(设计)人: | 李小锋;陈元金;杨彦涛;张佼佼 | 申请(专利权)人: | 杭州士兰集成电路有限公司 |
主分类号: | H01L23/48 | 分类号: | H01L23/48;H01L23/00;H01L21/768;H01L21/314;H01L21/3105 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310018 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | Bipolar电路的引线孔结构制造方法为:(1)在设有极区的硅基底上形成底层氧化硅薄膜层;(2)在底层氧化硅薄膜层上淀积形成顶层氧化硅薄膜层;(3)在顶层氧化硅薄膜层上淀积氮化硅薄膜层;(4)对氮化硅薄膜的预刻蚀区域进行光刻、刻蚀;(5)所述预刻蚀区域进行光刻、刻蚀,形成引线孔。本发明在1.5um工艺平台设备组基础上,制造出满足1.0~1.2um工艺平台的Bipolar电路的引线孔结构,且有效解决临近亚微米级工艺平台引线孔台阶金属覆盖问题。 | ||
搜索关键词: | bipolar 电路 一种 引线 结构 制造 方法 | ||
【主权项】:
Bipolar电路的引线孔结构,其特征在于,依次包括:设有极区的硅基底、在所述硅基底上的底层氧化硅薄膜层、在所述底层氧化硅薄膜层上的顶层氧化硅薄膜层、所述顶层氧化硅薄膜层上的氮化硅层及引线孔,所述引线孔贯穿底层氧化硅薄膜层、顶层氧化硅薄膜层,引线孔顶部周围为氮化硅层保护环。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州士兰集成电路有限公司,未经杭州士兰集成电路有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110052595.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:无铁芯多定子永磁高效发电机
- 下一篇:手机、真空镀膜表面处理天线及其制作方法