[发明专利]Bipolar电路的一种引线孔结构及制造方法有效

专利信息
申请号: 201110052595.1 申请日: 2011-03-02
公开(公告)号: CN102169862A 公开(公告)日: 2011-08-31
发明(设计)人: 李小锋;陈元金;杨彦涛;张佼佼 申请(专利权)人: 杭州士兰集成电路有限公司
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48;H01L23/00;H01L21/768;H01L21/314;H01L21/3105
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310018 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: Bipolar电路的引线孔结构制造方法为:(1)在设有极区的硅基底上形成底层氧化硅薄膜层;(2)在底层氧化硅薄膜层上淀积形成顶层氧化硅薄膜层;(3)在顶层氧化硅薄膜层上淀积氮化硅薄膜层;(4)对氮化硅薄膜的预刻蚀区域进行光刻、刻蚀;(5)所述预刻蚀区域进行光刻、刻蚀,形成引线孔。本发明在1.5um工艺平台设备组基础上,制造出满足1.0~1.2um工艺平台的Bipolar电路的引线孔结构,且有效解决临近亚微米级工艺平台引线孔台阶金属覆盖问题。
搜索关键词: bipolar 电路 一种 引线 结构 制造 方法
【主权项】:
Bipolar电路的引线孔结构,其特征在于,依次包括:设有极区的硅基底、在所述硅基底上的底层氧化硅薄膜层、在所述底层氧化硅薄膜层上的顶层氧化硅薄膜层、所述顶层氧化硅薄膜层上的氮化硅层及引线孔,所述引线孔贯穿底层氧化硅薄膜层、顶层氧化硅薄膜层,引线孔顶部周围为氮化硅层保护环。
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