[发明专利]调节交流负载功率的可控硅状态检测方法、装置及电路有效
申请号: | 201110054375.2 | 申请日: | 2011-03-08 |
公开(公告)号: | CN102207531A | 公开(公告)日: | 2011-10-05 |
发明(设计)人: | 姜西辉;钟家伟;杨小宝 | 申请(专利权)人: | 深圳和而泰智能控制股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02;G01R31/26 |
代理公司: | 深圳市科吉华烽知识产权事务所 44248 | 代理人: | 胡吉科 |
地址: | 518000 深圳市南山区高*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及一种调节交流负载功率的可控硅状态检测方法,包括如下步骤:所述交流负载与交流电源连接,所述微处理器不输出驱动信号时,使所述可控硅不工作;判断所述电压取样单元输出电压波形是否为占空比为50%的脉冲波形,如是,执行下一步骤;否则判断所述可控硅开路并退出;所述微处理器输出驱动波形,使所述可控硅工作;判断所述电压取样单元输出电压波形是否为脉冲波形,如是,退出本次测试;否则,否则判断所述可控硅短路并退出;本发明还涉及一种可控硅状态检测装置及电路。实施本发明的调节交流负载功率的可控硅状态检测方法、装置及电路,具有以下有益效果:可以及时发现可控硅故障、可以及时将负载由交流电源上断开。 | ||
搜索关键词: | 调节 交流 负载 功率 可控硅 状态 检测 方法 装置 电路 | ||
【主权项】:
一种调节交流负载功率的可控硅状态检测方法,其特征在于,所述可控硅两个开关端之间并接有电压取样单元,所述电压取样单元输出其取得的电压波形到输出驱动信号控制所述可控硅导通状态的微处理器;所述检测方法包括如下步骤: A)所述交流负载与交流电源连接,所述微处理器不输出驱动信号时,使所述可控硅不工作; B)判断所述电压取样单元输出电压波形是否为占空比为50%的脉冲波形 如是,执行步骤C);否则执行步骤F); C)所述微处理器输出驱动波形,使所述可控硅工作; D)判断所述电压取样单元输出电压波形是否为脉冲波形,如是,执行步骤E);否则,执行步骤G); E)退出本次测试; F)判断所述可控硅开路,并跳转到步骤E); G)判断所述可控硅短路,并跳转到步骤E)。
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