[发明专利]一种矩形石英晶片缺陷自动检测分类识别方法

摘要

本发明是公开了一种矩形石英晶片缺陷自动检测分类识别方法，其步骤：1.在原始图像中提取石英晶片的长边并计算其斜率；2.进行图像旋转，使晶片的长边在图像中呈水平走向；3.进行图像分割，从背景中分离出晶片目标；4.基于晶片目标及其相关参数，建立晶片模板；5.外围断条缺陷的检测和识别；6.外围边缘不齐缺陷的检测和识别；7.外围崩边缺陷的检测和识别；8.边缘处崩边缺陷的检测和识别；9.边缘处边缘不齐缺陷的检测和识别；10.边缘处炸口和划痕缺陷的检测和识别；11.内部炸心、划痕和阴影缺陷的检测和识别。其优点是：检测准确，分类识别正确，工效高，无视力伤害。

主权项

一种矩形石英晶片缺陷自动检测分类识别方法，其特征在于：该方法包括下列步骤：步骤10)、在原始图像中提取矩形石英晶片的长边并计算其斜率；步骤20)、进行图像旋转，使矩形石英晶片的长边在图像中呈水平走向；步骤30)、进行图像分割，从背景中分离出矩形石英晶片目标；步骤40)、基于矩形石英晶片目标及其相关参数，建立矩形石英晶片模板；步骤50)、外围断条缺陷的检测和识别；步骤60)、外围边缘不齐缺陷的检测和识别；步骤70)、外围崩边缺陷的检测和识别；步骤80)、边缘处崩边缺陷的检测和识别；步骤90)、边缘处边缘不齐缺陷的检测和识别；步骤A0)、边缘处炸口缺陷的检测和识别；步骤B0)、边缘处划痕缺陷的检测和识别；步骤C0)、内部炸心缺陷的检测和识别；步骤D0)、内部划痕缺陷的检测和识别；步骤E0)、内部阴影缺陷的检测和识别。