[发明专利]一种精密的振镜校正系统及校正方法无效

专利信息
申请号: 201110061492.1 申请日: 2011-03-15
公开(公告)号: CN102152007A 公开(公告)日: 2011-08-17
发明(设计)人: 邱勇 申请(专利权)人: 北京金橙子科技有限公司
主分类号: B23K26/42 分类号: B23K26/42
代理公司: 北京方韬法业专利代理事务所 11303 代理人: 吴景曾
地址: 100000 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明适用于激光加工技术领域,提供一种精密的振镜校正系统及其校正方法;振镜校正系统包括:振镜校正标靶,可由振镜扫描模块通过反射激光在所述校正标靶上标记指定标记点;CCD图像采集装置,对振镜标刻出的标准标记点进行图像采集;二维运动平台装置,进行高精密定位运动,保证定位精度;校正处理模块,对所述CCD图像采集装置采集的图像进行运算处理,找出所述振镜校正标靶的标记点的位置偏差,并生成振镜补偿文件对振镜进行校正,本发明可方便、快速实现对振镜的高精度校正。
搜索关键词: 一种 精密 校正 系统 方法
【主权项】:
一种精密的振镜校正系统,它包括振镜校正标靶(31),其特征在于:所述的精密的振镜校正系统还包括:一个二维运动平台(32),该二维运动平台(32)设在振镜校正标靶(31)的底部;对振镜校正标靶(31)上每个标记点进行图像采集的CCD图像采集装置(33),该CCD图像采集装置(33)安装在二维运动平台(32)的上方;用于控制二维运动平台(32)的运动,把振镜校正标靶(31)上的每个标记点运动到理论位置,对采集的图像计算出每个标记点的位置偏差,并输出振镜校正文件给振镜控制系统(1),对振镜进行校正的校正处理模块(34)。
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