[发明专利]一种高级光谱校正方法

摘要

本发明公开了一种高级光谱校正方法，利用光辐射仅限于短波自由波段的校准光源测量计算出光谱仪器的高级光谱函数，利用该函数可对光谱仪器所测量光源的测量结果进行校正，得到较为精确的测量值。利用本发明公开的高级光谱校正方法，无须改变光谱仪器的内部构造，设计简单，使用方便，通过一次测量通用的高级光谱校正函数即可校正光谱仪器测量波段内所有级次的短波高级光谱，测量准确度高且速度快。

主权项

一种高级光谱校正方法，其特征在于，光谱仪器的光谱测量范围为(λmin，λmax)，其中最大测量波长λmax是最小测量波长λmin的两倍以上，(λmin，2λmin)区域为短波自由波段，(2λmin，λmax)区域为长波叠加波段，使用光辐射仅限于短波自由波段的校准光源校正任意待测光源的高级光谱，其步骤为：(a)测量所述校准光源在短波自由波段的一级光谱功率分布I1(λ′s)(λmin＜λ′s＜2λmin)和长波叠加波段的高级光谱功率分布Ii(λ′s)(λmin＜λ′s＜2λmin，i＝2，3，4....n)；(b)将Ii(λ′s)与I1(λ′s)分别按对应波长位置的光谱辐照度值相比，得到该光谱仪器的高级光谱函数fi(λ′s)(λmin＜λ′s＜2λmin，i＝2，3，4....n)；(c)测量任意待测光源全波段的光谱功率分布Im(λa)(λmin＜λa＜λmax)；(d)用步骤(b)得到的高级光谱函数fi(λ′s)乘以步骤(c)中测得待测光源在短波自由波段的光谱功率，得到高级光谱功率；步骤(c)中测得的长波叠加波段的光谱功率减去对应的高级光谱功率，并与所述短波自由波段的光谱功率结合，得到校正后的待测光源全波段光谱功率分布Ic(λa)(λmin＜λa＜λmax)。