[发明专利]偏光片的亮点瑕疵检测方法与门槛值产生方法及其装置无效
| 申请号： | 201110067106.X | 申请日： | 2011-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN102156137A | 公开（公告）日： | 2011-08-17 |
| 发明（设计）人： | 赵新民 | 申请（专利权）人： | 明基材料有限公司;明基材料股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/958 | 分类号： | G01N21/958 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215121 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明关于一种偏光片的亮点瑕疵检测方法与门槛值产生方法及其装置，该偏光片的亮点瑕疵检测方法于一检测装置执行，且该偏光片上具有至少一待测点，该亮点瑕疵检测方法包含以下步骤：(A)于一个包含该待测点的检测区域中取样；(B)计算该检测区域中的影像灰阶值；(C)根据该影像灰阶值产生一可表示该检测区域的灰阶变化程度的评估值；及(D)将该评估值与一门槛值相比对，以检测该待测点是否为亮点瑕疵。如此藉由该亮点瑕疵检测方法可减少后续成品检验人员的人工目检时间。 | ||
| 搜索关键词： | 偏光 亮点 瑕疵 检测 方法 门槛 产生 及其 装置 | ||
【主权项】：
一种偏光片的亮点瑕疵检测方法，于一检测装置执行，且该偏光片上具有至少一待测点，其特征在于该亮点检测方法包含以下步骤：(A)于一个包含该待测点的检测区域中取样；(B)计算该检测区域中的影像灰阶值；(C)根据该影像灰阶值产生一可表示该检测区域的灰阶变化程度的评估值；及(D)将该评估值与一门槛值相比对，以检测该待测点是否为亮点。
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