[发明专利]一种用于半导电胶辊平整度的检测仪及其检测方法

摘要

本发明涉及一种用于半导电胶辊平整度的检测仪，所述半导体胶辊包括两端具有连接头的金属芯和包裹于金属芯外表面的胶辊面，本发明检测仪包括一平台以及分别设于该平台上的工作部件、支架部件、光源部件、限位部件和电气控制箱。本发明还提供了一种用于半导电胶辊平整度的检测方法。本发明检测仪及其检测方法与现有技术相比，具有以下优点：因检测仪两边有限位轴承的压力，且可以增加和减少，杜绝出现产品接触不均现象，保证产品品质；因为有容置槽卡位，所以产品只在固定的区域转动，避免左右摆动；固定灯管，灯管均匀，更有利于产品的判断；操作简单易学；基本接近碳粉盒的设计，能完全对产品判断，避免判断的不确定性。

主权项

一种用于半导电胶辊平整度的检测仪，所述半导体胶辊包括两端具有连接头的金属芯和包裹于金属芯外表面的胶辊面，其特征在于，包括一平台(1)以及分别设于该平台上的工作部件、支架部件、光源部件、限位部件和电气控制箱(6)，其中，所述平台(1)为一铁板；所述工作部件包括一可转动的铁轴(21)、两个分别支承在该铁轴(21)两头的铁轴轴承(23)、容纳所述铁轴轴承(23)的固定座(22)以及连接在所述铁轴(21)的右端且驱动该铁轴(21)转动的调速马达(24)，所述铁轴(21)通过其两头的固定座(22)横向设置于所述平台(1)的中央；所述支架部件包括两个L型固定支架(31)及两个悬臂(33)，所述固定支架(31)左右对称且可调节地设于所述铁轴(21)的前侧，所述两个悬臂(33)前端分别可调节地固定于所述两个固定支架(31)的顶部，且该悬臂(33)悬于所述铁轴(21)的正上方，所述两个悬臂(33)的后端分别开有两个相向的、用于容置所述半导电胶辊两端连接头的容置槽(34)，且所述半导电胶辊的胶辊面与所述铁轴(21)的外周面相切；所述光源部件包括一灯管和包裹所述灯管的铁皮盒(41)，所述铁皮盒(41)固定于所述铁轴(21)的后侧，且其面对所述铁轴(21)的一侧面上横向设有一开口(42)，该开口(42)正对所述铁轴(21)与所述半导电胶辊胶辊面的相切处；所述限位部件包括一可转动的方轴(51)、两个分别支承在该方轴(51)两头的方轴轴承(52)、两个倒L型的铁架(53)、两根铁管(54)、两个铁块(55)、两个限位轴承(56)和一扳手(57)，所述方轴轴承(52)容置于所述固定座(22)上，且该方轴(51)位于所述铁轴(21)和所述铁皮盒(41)之间，所述两个铁架(53)的下端套设于所述方轴(51)的两端，所述两根铁管(54)分别穿过所述铁架(53)上端的后半部，且位于与所述平台(1)平行的同一平面上，所述两个铁块(55)的上端分别可调节地垂直固定于所述两个铁架(53)上端的前半部，所述铁块(55)的下端固定有一限位轴承(56)，所述两个限位轴承(56)分别压于所述悬臂(33)容置槽(34)的上方，所述扳手(57)的一端固定于所述两根铁管的中心处，另一 端倾斜向上地悬于所述铁轴(21)的上方；所述电气控制箱(6)固定于所述铁皮盒(41)的右侧，所述电气控制箱(6)分别与所述调速马达(24)和所述灯管电连接。