[发明专利]一种降低太阳能电池发射极和埋栅电极间接触电阻的方法有效
申请号: | 201110068056.7 | 申请日: | 2011-03-22 |
公开(公告)号: | CN102157626A | 公开(公告)日: | 2011-08-17 |
发明(设计)人: | 杨华 | 申请(专利权)人: | 上海采日光伏技术有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 北京尚德技研知识产权代理事务所(普通合伙) 11378 | 代理人: | 严勇刚 |
地址: | 201203 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种降低太阳能电池发射极和埋栅电极间接触电阻的方法,其中,所述方法包括:在太阳能硅片表面形成一层含磷的二氧化硅,然后刻蚀露出发射极,控制所述太阳能硅片表面的晶体硅层的厚度损失10-50;利用剩余的二氧化硅作为掩膜层,淀积金属;之后进行两次快速热制程退火处理,最后形成金属硅化物的埋栅电极。本发明的方法制作的太阳能电池中,首先在刻蚀露出发射极的过程中,控制所述太阳能硅片表面的晶体硅层的厚度损失,从而控制了金属硅化物的厚度,在此厚度范围内,通过两次严格限定的快速热制程退火处理,在埋栅电极和发射极之间形成了良好的欧姆接触,从而大幅降低电池的串联电阻,达到改善填充因子,短路电流以及电池转化效率的目的。 | ||
搜索关键词: | 一种 降低 太阳能电池 发射极 电极 间接 触电 方法 | ||
【主权项】:
1.一种降低太阳能电池发射极和埋栅电极间接触电阻的方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:A、对太阳能硅片先执行标准的制绒,扩散和去边绝缘工艺,形成所述太阳能硅片表面一层含磷的二氧化硅,然后将所述太阳能硅片侧面和背面的N型硅片完整去除;B、使用喷墨法将光刻胶喷在所述太阳能硅片上形成图形;C、通过等离子刻蚀未覆盖所述光刻胶的所述太阳能硅片,露出发射极,控制所述太阳能硅片表面的晶体硅层的厚度损失然后去除所述光刻胶;D、利用剩余的所述太阳能硅片表面的二氧化硅作为掩膜层,淀积金属,金属种类可为钛,钴或者镍;E、对所述太阳能硅片进行第一次快速热制程退火处理,退火时间10秒到2分钟,退火温度钛600-750℃,钴400-600℃,镍400-550℃;F、去除未与所述太阳能硅片反应的金属,然后对所述太阳能硅片进行第二次快速热制程退火处理,退火时间10秒到2分钟,退火温度钛850-950℃,钴700-800℃,镍500-600℃;最后形成金属硅化物的埋栅电极;G、在所述金属硅化物的埋栅电极制程完成后,继续进行去含磷二氧化硅、抗反射氮化膜淀积、丝网印刷以及烧结工艺,完成太阳能电池的制作。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海采日光伏技术有限公司,未经上海采日光伏技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110068056.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的