[发明专利]一种SGZO-Au-SGZO透明导电膜的制备方法有效
申请号: | 201110069773.1 | 申请日: | 2011-03-14 |
公开(公告)号: | CN102650044A | 公开(公告)日: | 2012-08-29 |
发明(设计)人: | 周明杰;王平;陈吉星;黄辉 | 申请(专利权)人: | 海洋王照明科技股份有限公司;深圳市海洋王照明技术有限公司 |
主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/14;C23C14/08 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 何平 |
地址: | 518100 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明属于发光材料领域,其公开了一种SGZO-Au-SGZO透明导电膜的制备方法,包括步骤,SGZO靶材的制备;将SGZO靶材、Au靶材以及衬底装入磁控溅射镀膜设备的真空腔体,并抽真空;调整磁控溅射镀膜工艺参数,进行镀膜处理。本发明采用磁控溅射设备,于非加热状态下得到SGZO-Au-SGZO透明导电膜,其可见光平均透过率介于65~95%,最低方块电阻率为5Ω/□。 | ||
搜索关键词: | 一种 sgzo au 透明 导电 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种SGZO‑Au‑SGZO透明导电膜的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1,将质量百分比为0.1~3%的SiO2、质量百分比为2~15%的Ga2O3和余量为ZnO原料混合、研磨后于900~1350℃烧结成SGZO靶材;步骤S2,将步骤S1中得到的SGZO靶材、Au靶材以及衬底装入磁控溅射镀膜设备的真空腔体,并将真空腔体的真空度设置在1.0×10‑3Pa~1.0×10‑5Pa之间;步骤S3,调整磁控溅射镀膜工艺参数为:磁控溅射工作压强0.2~2.0Pa,氩气工作气体的流量15~35sccm,SGZO靶材的溅射功率为60~160W,以及Au靶材的溅射功率为30~100W;接着根据确定的沟工艺参数进行镀膜处理,且在所述衬底上不断交替溅射SGZO层和Au层,最后得到三文治结构的所述SGZO‑Au‑SGZO透明导电膜。
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