[发明专利]量子效率测量方法、量子效率测量装置和积分器

摘要

本发明提供一种量子效率测量方法、量子效率测量装置和积分器。该量子效率测量方法包括以下步骤：步骤(S10)，将试样配置在具有积分空间的积分器内的规定位置；步骤(S12)，向试样照射激发光，并且经由第2窗将积分空间内的光谱作为第1光谱进行测量；步骤(S20)，将激发光入射部分构成为使透过试样后的激发光不向积分空间内反射；步骤(22)，向试样照射激发光，并且经由第2窗将积分空间内的光谱作为第2光谱进行测量；步骤(S40、S42、S46)，基于第1光谱中的与激发光的波长范围相对应的成分和第2光谱中的与试样受到激发光的照射而发出的光的波长范围相对应的成分算出试样的量子效率。

主权项

一种量子效率测量方法，其包括以下步骤：将试样配置在具有积分空间的积分器内的规定位置；经由设置于上述积分器的第1窗向配置在上述规定位置的上述试样照射激发光，并且经由被设置在上述积分器的与上述激发光的光轴不交叉的位置的第2窗将上述积分空间内的光谱作为第1光谱进行测量；将激发光入射部分构成为使透过上述试样后的激发光不向上述积分空间内反射，该激发光入射部分与上述第1窗相对且与上述积分器内的上述激发光的光轴交叉；在激发光不向上述积分空间内反射的状态下，经由上述第1窗向配置在上述规定位置的上述试样照射上述激发光，并且经由上述第2窗将上述积分空间内的光谱作为第2光谱进行测量；基于上述第1光谱中的与上述激发光的波长范围相对应的成分和上述第2光谱中的与上述试样受到上述激发光的照射而发出的光的波长范围相对应的成分算出上述试样的量子效率。