[发明专利]X射线透射检查装置及X射线透射检查方法有效
| 申请号： | 201110071723.7 | 申请日： | 2011-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN102213683A | 公开（公告）日： | 2011-10-12 |
| 发明（设计）人： | 的场吉毅 | 申请（专利权）人： | 精工电子纳米科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 何欣亭;王忠忠 |
| 地址： | 日本千叶*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及X射线透射检查装置及X射线透射检查方法，防止因试料与X射线检测器的距离的变化引起的对异物检测的误检测。包括：向检查对象试料元素照射X射线的X射线管球(11)；检测X射线透射试料时的透射X射线的X射线检测器(13)；从透射X射线的透射像获得对比度像的运算部(17)；计算试料与检测器之间的距离的传感器；以及调整X射线检测器的位置的机构。在保持试料与X射线检测器之间的距离固定的同时拍摄X射线透射像。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 透射 检查 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种X射线透射检查装置，包括：X射线管球，向移动的检查对象试料照射X射线；X射线检测器，接受上述X射线透射上述试料时的透射X射线并检测其强度；以及运算部，从表示检测到的上述透射X射线的强度分布的透射像获得对比度像；其特征在于包括：距离测定部，测定上述检查对象试料与X射线检测器之间的距离；和距离调整机构，基于该距离测定部的测定结果相对地调整上述试料与上述X射线检测器之间的距离。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于精工电子纳米科技有限公司，未经精工电子纳米科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110071723.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
