[发明专利]主板测试系统及其测试治具无效

专利信息
申请号: 201110071936.X 申请日: 2011-03-24
公开(公告)号: CN102693175A 公开(公告)日: 2012-09-26
发明(设计)人: 张万宏 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G06F11/267 分类号: G06F11/267
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种测试治具,用于连接至一主板的PCIE信号端口来对所述主板进行测试,所述测试治具包括一板体、一PCIE连接端口、一PCIE插槽及一电源模组,所述PCIE连接端口用于连接至所述主板的PCIE信号端口,所述PCIE插槽连接至所述PCIE连接端口以与所述主板上的PCIE信号端口通信,所述电源模组连接至所述PCIE插槽以给所述PCIE插槽提供电压,所述PCIE插槽用于在对所述主板测试时插接一外接卡。本发明实现了方便快捷地对所述主板进行测试。本发明还包括一种应用所述测试治具的主板测试系统。
搜索关键词: 主板 测试 系统 及其
【主权项】:
一种测试治具,用于连接至一主板的PCIE信号端口来对所述主板进行测试,所述测试治具包括一板体、一PCIE连接端口、一PCIE插槽及一电源模组,所述PCIE连接端口用于连接至所述主板的PCIE信号端口,所述PCIE插槽连接至所述PCIE连接端口以与所述主板上的PCIE信号端口通信,所述电源模组连接至所述PCIE插槽以给所述PCIE插槽提供电压,所述PCIE插槽用于在对所述主板测试时插接一外接卡。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司,未经鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201110071936.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top