[发明专利]主板测试系统及其测试治具无效
申请号: | 201110071936.X | 申请日: | 2011-03-24 |
公开(公告)号: | CN102693175A | 公开(公告)日: | 2012-09-26 |
发明(设计)人: | 张万宏 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/267 | 分类号: | G06F11/267 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 一种测试治具,用于连接至一主板的PCIE信号端口来对所述主板进行测试,所述测试治具包括一板体、一PCIE连接端口、一PCIE插槽及一电源模组,所述PCIE连接端口用于连接至所述主板的PCIE信号端口,所述PCIE插槽连接至所述PCIE连接端口以与所述主板上的PCIE信号端口通信,所述电源模组连接至所述PCIE插槽以给所述PCIE插槽提供电压,所述PCIE插槽用于在对所述主板测试时插接一外接卡。本发明实现了方便快捷地对所述主板进行测试。本发明还包括一种应用所述测试治具的主板测试系统。 | ||
搜索关键词: | 主板 测试 系统 及其 | ||
【主权项】:
一种测试治具,用于连接至一主板的PCIE信号端口来对所述主板进行测试,所述测试治具包括一板体、一PCIE连接端口、一PCIE插槽及一电源模组,所述PCIE连接端口用于连接至所述主板的PCIE信号端口,所述PCIE插槽连接至所述PCIE连接端口以与所述主板上的PCIE信号端口通信,所述电源模组连接至所述PCIE插槽以给所述PCIE插槽提供电压,所述PCIE插槽用于在对所述主板测试时插接一外接卡。
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